| 产品特性：恒温 | 是否进口：否 | 产地：北京 |
| 加工定制：否 | 品牌：其他 | 型号：FYL-YS-430L |
| 温度范围：-19-10℃℃ | 工作室尺寸：1265×680×1830 mm | 温度波动度：±0.1-3℃ |
| 温度均匀度：0.1-3℃ | 控温方式：新型全封闭压缩机 | 适用范围：37℃储存液体***和被服 |
| 规格：150L/3110L/430L/828L/1028L | 材质：双层钢化玻璃门 | 款式：单门立式 |
| 电压：198-235.4V |
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正压头盔消毒柜图片福意联FYL-YS-431L参数：
正压头盔消毒柜图片福意联FYL-YS-431L采用干热物理消毒方法，达到灭活温度并维持一定时间，具有灭活杀菌作用。
正压头盔消毒柜图片福意联FYL-YS-431L三相电压不平衡GJB181A-23中规定需要模拟在三相供电不平衡状态下用电设备的运行特性。IT76系列支持单三相输出，可实现对于三相交流电源的测试应用。用户可以根据实际需求实现Y型和型的连接方式。在实现三相输出的同时，可模拟三相不平衡，扩展应用范围。交流谐波畸变模拟GJB181A-23中规定需要模拟在三相供电不平衡状态下用电设备的运行特性。IT76系列拥有强大的谐波模拟能力，可达5次谐波。
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
